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臺式x射線吸收譜儀

產品簡介

臺式X射線吸收譜儀 是一種采用常規實驗室X射線光源（而非同步輻射），可在普通實驗室內完成X射線吸收精細結構測量的桌面型分析儀器。它的目標是在非同步輻射光源的條件下，實現對材料局部原子結構的快速、便捷表征。

更新時間：2026-03-19
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品牌創譜specreation能量范圍4.5-20keV
能量分辨率0.5-1.5eV(7-9keV,近邊)X射線光源1.2-1.6kW閉管
光通量1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV單色器晶體直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge))
探測器SDD探測器自動樣品輪16工位
　　臺式X射線吸收譜儀，作為一種非破壞性的分析技術，具有高精度和高靈敏度的特點，近年來在材料科學、化學、生物學等領域得到了廣泛應用。
　　其核心原理在于利用X射線與物質之間的相互作用來揭示物質的內部結構和特性。當X射線穿過物質時，會與物質中的原子或分子發生相互作用，產生吸收、散射等現象。臺式X射線吸收譜儀通過精確測量不同能量下X射線的吸收情況，可以獲取關于物質中元素的種類、含量以及化學狀態等信息。
　　臺式x射線吸收譜儀利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。
　　小型化桌面式系統，易于使用：
　　· 支持近邊快掃功能；
　　· 支持原位測試等擴展功能；
　　· 人體工學高度設計，操作更便捷；
　　· 內置實驗參數預置，實現快速測量；
　　· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
　　· 遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
　　· 專業的應用技術支持和數據分析支持；
　　· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
　　XAFS專用彎晶：
　　· 不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
　　· 預準直安裝，即插即用；
　　· 可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
　　X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收譜能量掃描機構：
　　· 聯動掃描機構；
　　· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動；
　　· 精度和分辨率高，穩定性好。
臺式x射線吸收譜儀
臺式x射線吸收譜儀
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