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分析測試儀器
x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀
產(chǎn)品簡介
x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀,原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源,測量并分析材料對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細(xì)結(jié)構(gòu)的大型實驗裝置。通過在反應(yīng)過程中實時監(jiān)測吸收邊的近邊(XANES)和擴(kuò)展邊(EXAFS)信號,揭示材料在真實環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律,為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計提供直接依據(jù)。
| 品牌 | 創(chuàng)譜specreation |
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400-8877-750
