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Product Center
產品簡介
X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。
| 品牌 | 創譜specreation |
|---|
X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試，利用常規X光源實現X射線吸收精細結構（XAFS）的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購，有效助力相關科學研究和應用開拓！
小型化桌面式系統，易于使用：
· 支持近邊快掃功能；
· 支持原位測試等擴展功能；
· 人體工學高度設計，操作更便捷；
· 內置實驗參數預置，實現快速測量；
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
· 遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
· 專業的應用技術支持和數據分析支持；
· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶：
· 不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
· 預準直安裝，即插即用；
· 可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試能量掃描機構：
· 聯動掃描機構；
· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動；
· 精度和分辨率高，穩定性好。
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